项目简介：“集成电路激光试验测试技术”主要瞄准传统及商业航天、航空及地面电子设备等研发用户的故障注入及测试分析设备自动化集成开发需求，以航天电子系统及其所应用的集成电路为切入点，针对单粒子效应故障特征及影响分析、故障来源快速甄别定位和加固方法的精准故障注入验证等抗单粒子效应保证技术需求，能够颠覆传统大型重离子加速器试验测试的垄断航天故障注入试验测试的格局，以及传统通过软件仿真进行非完整功能性故障注入的做法，充分发挥脉冲激光稳定可靠、快速可调、时空定位精确可控等技术优势，结合智能化控制技术，发展了单粒子效应敏感度评估、单粒子效应危害特征获取、敏感电路单粒子效应甄别定位及基于典型单粒子效应加固验证的故障注入等核心技术。已开发“集成电路激光精准注入分析仪”等系列设备，可实现宽LET值辐照、微米量级薄弱点定位、百皮秒量级脉冲响应参数提取，设备指标先进，性价比高。