项目简介：
测量材料电学及光学参数低温特性的技术主要包括：使用半导体制冷片冷端对测量腔室进行制冷，并通
过温度传感器和控制器对测量腔室温度进行闭环控制，通过空气作为媒质对待测电学元件进行热交换以实现
低温环境，进而实现材料特性的测量。测量低温根据制冷片的多少进行调节，控制精度可以达到0.1C。制
冷装置具有价格低、小巧、噪音小、无振动、使用简单、易维护、无耗材、功耗小等优点。

市场前景：
低温装置及材料低温特性测试技术可以应用到材料电学及光学低温特性的实验室测量和实际生产中，探
究材料物理特性随温度的变化趋势，比如：1.物理实验开发；2.科学实验探究；3.实际生产材料选择。

实施条件：
制冷装置分别由制冷系统、散热系统、测量系统以及控制系统四部分构成。制冷系统主要部件为半导体
制冷片；散热系统主要包括水冷装置、水泵以及散热风扇；测量系统主要由封闭制冷腔室和放置待测元件的
吊架组成；控制系统主要由温度控制器、温度传感器组成。
需要搭建测试系统，所需设备包括：精密LCR表、计算机、交流信号源、数字示波器、光学导轨、光学
元件等。

知识产权情况：
该成果获得授权发明专利1项：一种测量电学参数低温特性的装置和方法，专利号：ZL202010944999.0。