EDAC 弹性电路可以消除多余时序裕量，但通常会受限于短路径（SP）问图 2 AVFS 系统实测功耗收益问题，因为短路径必须被填充至超过检测窗口的长度，比修 hold 代价大得多。因此短路径修复会有较大的面积开销，尤其是在近阈值下工作时。针对该问题，ASIC中心宽电压 IC 设计团队提出了一种基于传输门的短路径填充方法（TG-SPP），该方法仅使用一个传输门来将短路径扩展到负时钟相位，同时保持关键路径不受影响。团队还开发了基于这种单元的插入规则和自动插入流程，从而克服短路径和关键路径的复杂交叉问题。为了进一步减少 EDAC 的开销，作者还提出了一种轻量级的错误检测锁存器，与采用传统 24-T 触发器相比，它仅具有两个额外的晶体管。